晶体结构对铁电测试仪测试结果的影响

铁电测试仪是一款高量程款的铁电性能材料测试装置，这款设备可以适用于铁电薄膜、铁电体材料（既可块体材料）的电性能测量，可测量铁电薄膜电滞回线、可测出具有非对称电滞回线铁电薄膜值。可以进行电致应变测试，可以蝴蝶曲线功能，设备还可以扩展高温电阻，高温介电，电容-电压曲线，TSC/TSDC等功能。动态电滞回线测量-DHM、泄漏电流测量-LM、CV测量-CVM、疲劳测量-FM、保持力测量-RM、印记测量-IM、脉冲测量-PM、静态电滞回线测量-SHM、击穿电压测量-BDM等，对于评估铁电材料的性能以及优化器件设计具有重要意义。

同一种材料，单晶体和多晶体的电滞回线是不同的。如单晶体的电滞回线很接近于矩形，P和P很接近，而且P较高；陶瓷的电滞回线中P与P相差较多，表明陶瓷多晶体不易成为单畴，即不易定向排列。