JWDL-1型金属电阻率测试仪（铜，导电薄膜）的详细资料：

JWDL-1型金属电阻率测试仪

关键词：金属电阻，导电膜，金属涂层

JWDL-1型金属电阻率测试仪是一款针对于不同金属材料电阻测试的专业设备，不管是铜金属材料，导电金属箔材，金属片等，柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层都可以采用这款设备，金属电阻率测试方案核心原则：一是可以用专门测试金属材料电阻率的钨针探头，二是要知道金属材料的测试范围能够更好的为你选配四探针测试仪。金属材料属于硬质材料，必须要选择碳化钨针探头，这种探头具有耐磨性好，使用时间长。WDL-1型金属电阻率测试仪是判断金属性质的重要设备，也是材料生产厂家和科研的重要设备。

一、主要应用领域：

1、硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；

2、柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻

3、电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量

4、电池极片等箔上涂层电阻率方阻。

二、主要技术参数：

测量范围

1、电阻：1×10-4～2×105Ω，分辨率：1×10-5～1×102Ω

2、电阻率：1×10-4～2×105Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102Ω-cm

3、方阻：5×10-4～2×105Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102Ω/□

4、电压量程：20.00mV～2000mV

5、电流量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A

6、误差：±0.1%读数±2字

7、材料尺寸：直径：圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，

方测试台直接测试方式180mm×180mm，

长(高)度：测试台直接测试方式H≤100mm,

测量方位:轴向、径向均可

8、探头类型：

9、碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg可调

10、薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg可调

11、电源：输入: AC 220V±10% ,50Hz功耗：<20W

12、外形尺寸：主机220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）

净重：≤2.5kg

导电金属箔材

金属铜金属材料

我们专业提供功能材料测试设备及测试服务：

一、压电材料测试装置：ZJ-3型精密D33测试仪，ZJ-4型宽量程精密D33测试仪，ZJ-5型叠层压电测试仪，ZJ-6型多功能参数压电测试仪,GDPT-900A型高温压电测试系统,JKZC-YDZK03A型高精度压电阻抗分析仪，YDH-1型压电电荷测试仪，YDB-03型压电陶瓷表面电压测试仪

二、压电材料制样设备：PZT-JH10/4型压电陶瓷极化装置，PZT-JH20/1型粉末极化装置

PZT-JH30/3型压电陶瓷及薄膜综合极化装置，ZJ-D33-YP15型压片机

三、介电材料测试装置：GWJDN-600型四通道高温介电测试仪，GWJDN-1000型四通道高温介电测试仪

四：铁电材料测测试仪：ZT-4A铁电测试仪,FE-5000型变温铁电测试系统，ECM -150型电卡效应测试系，DCD-100型储能电介质充放电测试系统，

五、BKTEM-Dx热电材料性能测试仪

高温功能材料测试设备：

GDPT-900A型高温D33测试系统，GWJDN-1000型四通道高低温介电测试仪，HTRT-1000型导电材料高温电阻率测试仪，JGWDZ-1000型金属高温电阻测量系统，BWGP-2000型变温光谱测试系统（高低温光谱系统），FSR-600材料高温双波段发射率测量系统，TSDC/TSC--400型热激励去极化电流测量系统，GWTF-300高温铁电材料测量系统，HTGSRM-1000型高温气敏材料测量系统，PTC/NTC-500高温热敏电阻材料参数测量分析系统，HTRS-1000型高温半导体材料电阻率测试仪，PRPM-1000热释电系数高温测试系统，HTRC-600型高温导电材料电阻率测试系统，