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SCTS-2000系型双电测四探针测试仪

SCTS-2000系型双电测四探针测试仪

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SCTS-2000系型双电测四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高正确度,特

SCTS-2000系型双电测四探针测试仪的详细资料:

SCTS-2000系型双电测式四探针测试仪

关键词:双电测,导电薄膜,导体


SCTS-2000系型双电测式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改进形范德堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高正确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

一、主要特点:

1、根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;

2、也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。

3、换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

4、由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。

二、基本技术参数

3.1 测量范围

电阻率:1×10-42×105Ω-cm,分辨率:1×10-51×102Ω-cm

阻:5×10-42×105Ω/□,分辨率:5×10-51×102Ω/

阻:1×10-52×105Ω,分辨率:1×10-61×102Ω

3.2 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决定)

径:圆测试台直接测试方式 Φ15130mm,手持方式不限

SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限.

()度:测试台直接测试方式H100mm,手持方式不限.

测量方位:轴向、径向均可

3.3. 4-1/2 位数字电压表:

(1)量程:20.00mV2000mV

(2)误差:±0.1%读数±2

3.4 数控恒流源

(1)量程:0.1μA1μA10μA100μA1mA10mA100mA1A

(2)误差:±0.1%读数±2

3.5 四探针探头(选配其一或加配全部)

(1)碳化钨探针:Φ0.5mm,直线探针间距1.0mm,探针压力: 02kg可调

(2)薄膜方阻探针:Φ0.7mm,直线或方形探针间距2.0mm,探针压力: 00.6kg可调

3.6 电源

输入: AC 220V±10% ,50Hz耗:<20W

3.7 外形尺寸:

主机220mm(长)×245 mm(宽)×100mm(高)




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