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JKZC-DSH系列双面探针台

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JKZC-DSH系列探针台是我司自主研发的一款双面探针台，最大可完成12英寸晶圆的正反面点针测试。在具备常规探针台的功能基础上,可用于晶圆和PCB板的测试，对晶圆或者PCB板正面和背面同时扎针以实现各种光/电性能测试需求的测试，或背面点针，正面收集光线等,运用十分丰富。该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能。

JKZC-DSH系列双面探针台的详细资料：

JKZC-DSH系列双面探针台

|产品概要

JKZC-DSH系列探针台是我司自主研发的一款双面探针台，最大可完成12英寸晶圆的正反面点针测试。在具备常规探针台的功能基础上,可用于晶圆和PCB板的测试，对晶圆或者PCB板正面和背面同时扎针以实现各种光/电性能测试需求的测试，或背面点针，正面收集光线等,运用十分丰富。该定制探针台具有优良的机械系统，稳定的结构，符合人体工程学，以及多项升级功能。此设备在激光器,LD/LED/PD的光强/波长测试等方面得到了广泛运用。如果您的产品也有双面点针,或者背面点针的需求，此款产品。

|技术特点

•双层设计，可正反面同时点针，可同时加载DC和RF信号；

•卡盘大手柄双驱动，省时，省力，省心，可升级360度快速移动；

•加厚级刚性金属框架结构设计,内部防震技术，结构性能稳定。

IJKZC-DSH系列探针台详细参数

产品型号技术参数		JKZC-DSH6	JKZC-DSH8	JKZC-DSH12
台体	主体材料	航空铝	航空铝	航空铝
	整机尺寸（mm）	750L550W680H	800L580W680H	930L700W680H
	重量	85kg	100kg	160 kg
	卡盘大小	6",360度转动，可微调	8",360度转动，可微调	12",360度转动，可微调
	卡盘XY轴行程	6"*6",精度10um	8"*8",精度10um	12"*12",精度10um
	卡盘Z轴行程	快速升降5mm,微调升降行程6mm,精度1微米
	卡盘材质	高透射玻璃或者镂空
	固定方式	机械式压片固定或者真空吸附，尺寸可调
	其他功能	带标准接地保护，可升级
针座平台	类型	双面点针平台，单个平台最多■可放置8个JKZC-DR/L-100探针座
	材质	U型平台，Q235镀鎳，带接地端子，带接地端子
正面光学系统	显微镜类型	体式显微镜/视频显微镜/金相显微镜+CCD成像系统
	倍率范围	16X~200X/40X~280X/20X~4000X
	显微镜行程	具备高刚性龙门架结构,XYZ行程分别为2英寸2英寸2英寸，精度lum
	CCD成像系统	2k或者4K相机，帧率60fps,带拍照/录像/测量功能等功能
背面光学系统	显微镜类型	L型单筒显微镜
	倍率范围	0.75X-5X
	显微镜行程	40X-280X（可选高倍物镜增加倍率）
	CCD成像系统	21＜或者4K相机，帧率60fps,带拍照/录像/测量功能等功能
探针座	种类	丝杆型/微分头型/经济型探针座
	X¥Z行程	12.5 mm-12.5 mm-12.5 mm
	机械精度	0.5um/0.7um/2um
夹具	漏电精度	同轴夹具10pA/H轴夹具lOOfA
	接口形式	同轴/三轴/SMA/香蕉头/鳄鱼夹/裸线等接口
其它	选件	屏蔽箱/防震桌/射频/同轴/三轴加热卡盘/探针卡/光电流显微镜/大功率/半自动
	电力需求	220W50HZ

搭配产品/半导体参数分析仪

我们经过近10年的发展,在测试仪器与探针台的搭配方面具备十分丰富的经验。半导体参数分析仪方面，我们和是德科技(Keysight)、泰克(Tektronix)、概伦电子(PRIMARIUS)等公司的半导体参数分析仪有过多次搭配经验，系列型号有Keysight B1500A、Keith ley 4200A-SCS、PRIMARIUS FS-Pro等,并为用户提供半导体参数分析仪与探针台集成测试方案和服务。

搭配产品/矢量网络分析仪

依靠与仪器设备厂商和设备集成经销商所保持良好的合作关系，我司可为用户提供是德科技(Keysight)、中电思仪(Ceyear)等公司的网络分析仪和模块，有Keysight E5063A/E5072A/E5061B/E5080B ENA、Keysight(N522x/3x/4xB) PNA、Keysight N5290A/ N5291A、Ceyear 3762A/B/C-S、Ceyear 3671C/D/E等,各系列型号的矢量网络分析仪和毫米波网络分析仪，涵盖不同测量频率范围、性能和功能，并为用户提供网络分析仪与探针台集成测试方案和服务,具备丰富的测试经验。