描述：中科院上海微系统所定制JKZC-LRT400冷热台成功交付


中国科学院上海微系统与信息技术研究所是我国著名的技术学科综合性研究所之一，前身是成立于1928年的国立中央研究院工程研究所。自建国以来，上海微系统所已获得奖励46项、部委省级奖励340余项。为国民经济发展、国家安全和社会进步做出了重大贡献。

本次交付的产品为探针冷热台JKZC-LRT400，该冷热台在实验中主要用于高阻材料在不同温度

中科院上海微系统所定制JKZC-LRT400冷热台成功交付

中国科学院上海微系统与信息技术研究所是我国著名的技术学科综合性研究所之一，前身是成立于1928年的国立中央研究院工程研究所。自建国以来，上海微系统所已获得奖励46项、部委省级奖励340余项。为国民经济发展、国家安全和社会进步做出了重大贡献。

本次交付的产品为探针冷热台JKZC-LRT400，该冷热台在实验中主要用于高阻材料在不同温度变化下的电学测试。

现场交付图

能提供从-190℃到600℃温度范围内的精准控制。

现场实验测试变温电阻测试数据（二）

测试样品为高阻材料，实验显示随温度升高，材料电阻在高温下骤降。在本次交付中，针对客户需求，对配套软件进行了定制。

包含两种测试模式：

①RT测试：样品电阻随温度变化；

②数据时间谱测试：到达设定温度后，样品电阻随时间变化。

一|、冷热台主要技术参数：

温度范围-196到600°C(-196℃需选择专用冷却系统)

可达150°C/min加热速率

多段温度控制程序设定

在线温度/时间曲线

全程温度稳定性和精度0.1°C

16 mm X、Y方向移动距离

样品区域φ22 mm

光孔直径 2.0mm

气密样品室，可以控制样品环境

超薄上盖窗口 0.17 mm

可用于透射和反射光

内盖可以增加温度稳定性

样品侧面导入

物镜最小工作距离4.5 mm

聚光镜最小工作距离12.5 mm

计算机控制

冷却剂直接冷却加热体

台体尺寸- 160 x 80 x 24 mm

二、电阻主要技术参数：

• 电流分辨率达0.1fA(10-16A)

• 测量电阻高达10PΩ(1016Ω)

• 输入阻抗>200TΩ

• 支持电压测量达20V

• 独立的电流和电压测量

• 5.0寸电容式触摸屏

• 6½位测量分辨率

• 内置电压源：±1000V，分辨率：700μV

• 温度和湿度测量

• 时域视图，捕获瞬态信号效应和选择测量数据

• 支持数据记录

• 配置专用屏蔽测试盒

• 接口：USB HOST、USB DEVICE、LAN、GPIB、RS232、HANDLER、INTERLOCK

  
  

主要测量应用

变温条件下针对

• 应用

• 
  

• 材料特征测试

  半导体、纳米材料、聚合物材料、介质材料、电化学材料、铁电材料、石墨烯、陶瓷、生物材料、橡胶、薄膜、金属、有机材料等

• 电子元器件泄漏电流和绝缘电阻测试

  电容器、电阻器、二极管、晶体管、传感器、TFT和CNT等类型、光电器件、纳米器件、太阳能电池、开关、继电器等

• 电子/非电子系统

  离子束、电子束、传感系统、粒子测量、嵌入式精密仪器等

• 半导体和其它器件I-V特性测量

• 体电阻/表面电阻率测量