JKTHMS-600光学冷热台是使用最为广泛的高精度冷热台。其宽泛的温度范围（-196°C到600°C）和升温速率（0.1到150°C/min），以及高精度（全程0.1°C）和高稳定（0.01°C），使其在各行业得到广泛的应用。

JK-CH600190-XRD光学冷热台是一种安装在X-射线衍射仪上研究样品变温X-射线衍射的附件。产品采用液氮致冷、电阻加热的方式，提供-190~600℃（选型）或RT~1000℃（选型）温度范围内的气氛/真空测试环境。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，适配现有各种X-射线衍射仪（布鲁克、赛默飞、理学等）。

JKGX-190光学测试冷热台采用液氮制冷和电热丝加热方式，可以在-190℃~600℃范围内进行温度和环境控制，搭配其他仪表进行电学、光学等测试。$n结构紧凑，适用于各种变温测试$n最大温度范围-190~600℃（选型）$n气密腔室设计，可通保护气体$n上位机软件控制支持改动或定制

中科院上海微系统所定制JKZC-LRT400冷热台成功交付 中国科学院上海微系统与信息技术研究所是我国著名的技术学科综合性研究所之一，前身是成立于1928年的国立中央研究院工程研究所。自建国以来，上海微系统所已获得奖励46项、部委省级奖励340余项。为国民经济发展、国家安全和社会进步做出了重大贡献。 本次交付的产品为探针冷热台JKZC-LRT400，该冷热台在实验中主要用于高阻材料在不同温度

GLRT-600型高低温探针台根据制冷方式分为液氮制冷和GM制冷机两种，温度范围从-260℃度到600℃C可控。产品兼容低至1pA的直流信号，50GHz的高频信号以及1KV的高压信号； 显微镜、探针、变温模块可自行切换，提供拓展的物性测量软件，包含光电热等测试功能； 广泛应用于半导体工业、MEMS、超导、电子学、物理学和材料学等领域，可以做标准的IV、CV、微波和光电实验。

BLRT-600型背面探针型冷热台 适合电极在样品背面的情况，探针可耐受高低温环境重复使用。 上部观察窗口离样品距离较远，不需要进行气体吹扫来防止窗口表面结露。 提供外部接线盒，用于信号切换，结合外部的湿度控制模块，适用于钙钛矿、太阳能电池、OLED发光等的变温测试和分析。